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一種抗電路參數漂移的高精度電阻測量方法
2019/11/27 9:54:00   轉載    本站    點擊:29次

第一完成單位: 西安工業大學

聯 系 人: 王博

成果類型: 應用技術

成果體現形式 : 新技術

技術領域: 電子信息

應用行業: 信息傳輸、軟件和信息技術服務業

成果簡介:

 本發明涉及一種抗電路參數漂移的高精度電阻測量方法,在電橋電路中,給待測電阻所在的支路上分別接入三個精確標定阻值已知的低溫飄精密電阻,對接入三個低溫飄精密電阻的電橋電路輸出值分別進行測量,根據三組測量值和三個低溫飄精密的電阻值計算電橋電路的參數,最后接入待測電阻,通過電路參數和待測電阻的測量數據計算出待測電阻的實際阻值。本發明的電阻測量方法在實際解算過程中無需關心測量電路的參數,最終解算結果僅與三個低溫飄精密電阻在當前環境和電路元件參數下的測量值有關,因而測量電路的測量精度僅與三個低溫飄精密電阻的穩定性有關;通過精心篩選和精密標定這三個低溫飄精密電阻,即可獲得待測電阻的高精度低溫飄電阻值。

主辦單位:陜西省產學研合作促進會
承辦單位:陜西省產學研服務中心 聯系電話:029-82481852 029-82418439
電子郵箱:[email protected] 傳真:029-82481852

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